數(shù)顯立式光學(xué)計(jì)的原理是,自準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)將標(biāo)尺光柵成像在指示光柵上,形成光閘式莫爾條紋;測桿的位移通過光學(xué)杠桿機(jī)構(gòu)使標(biāo)尺光柵像相對指示光柵移動(dòng),用光電器件進(jìn)行條紋計(jì)數(shù)。
數(shù)顯立式光學(xué)計(jì)的優(yōu)點(diǎn)是:
1.擺脫了信號累加計(jì)數(shù)方式,依據(jù)像元序號計(jì)數(shù),從信號接收到輸出均為純數(shù)字量,無須電子細(xì)分,因此對信號質(zhì)量要求寬松,抗干擾性強(qiáng),計(jì)數(shù)穩(wěn)定性好。
2.計(jì)數(shù)的依據(jù)是光帶落在CCD像元上的序號,在這之前途經(jīng)的像元不參加計(jì)數(shù),因此不存在漏計(jì)數(shù)問題,給使用帶來了方便。
3.可以利用軟件對光學(xué)杠桿正切函數(shù)的非線性和CCD像元位置誤差進(jìn)行區(qū)段修正,因此示值精度更容易控制。
4.采用液晶屏顯示,除顯示數(shù)字外,增加了模擬標(biāo)尺,利用光標(biāo)在標(biāo)尺上的左右移動(dòng)指示當(dāng)前接收像元在整個(gè)測量范圍中所處的位置,能幫助操作者快速調(diào)整示值零位和方便找拐點(diǎn)操作。
數(shù)顯立式光學(xué)計(jì)的實(shí)驗(yàn)操作步驟:
1、記錄數(shù)據(jù)
分別記錄下量塊組的基本尺寸L和立式光學(xué)計(jì)的偏移量讀數(shù),進(jìn)行數(shù)據(jù)處理得到塞規(guī)的尺寸。將測量結(jié)果與國標(biāo)中塞規(guī)的尺寸公差進(jìn)行比較,判斷塞規(guī)是否合格。
2、選擇測頭
測頭有球形、平面形和刀口形三種,根據(jù)被測零件表面的幾何形狀來選擇,使測頭與被測表面盡量滿足點(diǎn)接觸。測量平面工件時(shí),選擇球形測頭;測量球面工件時(shí),選擇平面測頭;測量圓柱面工件時(shí),應(yīng)選用刀口形測頭。
塞規(guī)的測量面為圓柱形,因此本實(shí)驗(yàn)應(yīng)選用刀口形測頭。
3、調(diào)整儀器零位
將量塊組放在工作臺上,先調(diào)整光學(xué)計(jì)立柱的升降螺母,使測頭的高度略低于量塊上表面,鎖緊升降螺母。壓下壓桿抬起測頭,將測頭緩緩放到量塊上表面,避免沖擊。然后按下reset歸零按鈕,顯示屏示數(shù)為0,完成儀器調(diào)零,測頭的此位置為零位。按下壓桿,抬起測頭,取下量塊組。
4、測量塞規(guī)
測量時(shí),按下壓桿,將塞規(guī)放在工作臺上,放下測頭,壓在塞規(guī)上表面。等顯示屏示數(shù)穩(wěn)定后,讀取示數(shù),即為塞規(guī)相對基本尺寸零位的偏移量△L。
5、進(jìn)行隨機(jī)誤差分布規(guī)律實(shí)驗(yàn)
再次對塞規(guī)測量,并且盡可能測量塞規(guī)同一部位,反復(fù)測量100次,注意每測完3~5次必須對儀器重新調(diào)零。然后要對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,作出直方圖并求出標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限測量誤差。
6、根據(jù)被測塞規(guī)的基本尺寸組合量塊
由于光學(xué)計(jì)測頭的活動(dòng)范圍為10mm,因此組合量塊的尺寸與塞規(guī)的基本尺寸差值應(yīng)在10mm以內(nèi),方便測量。
量塊上有防銹油,使用前先用棉紗將量塊擦干凈,尤其是兩個(gè)基本尺寸面。拿起量塊時(shí),不要碰觸到基本尺寸面。